天线近场测量技术是用一个特性已知的探头,抽测天线近区某一表面上场的幅度和相位分布,通过数学变换式可以确定天线的远场特性。根据选取的测量面的不同,通常分为平面近场扫描、柱面近场扫描或.球面近场扫描。

平面近场扫描的基本思想是把待测天线在空间建立的场展开成平面波函数之和,展开式中的加权函数包含着远场图的完整信息,根据近场测量数据算出加权函数,进而确定天线的远场特性。

平面近场天线测试系统具有测量精度高、测量大口径/高增益天线能力强、场地要求低等特点,特别是它- -次测量可得到天线分布的全息信息，对于天线设计者来说,既省时又省力,大大提高了效率,缩短了研制周期,为新型天线的研制提供了快速、准确的手段,并有向其它领域渗透的巨大潜力。近场扫描测量具有获得的信息量大、环境及电气随机干扰小计算精度高、投资小、可全天候工作等一系列优点。 因此,它为实现天线的高精度自动化测试以及快速检测与调试,提供了先进的测试手段和计量标准。

紧缩场测试系统,就是采用一个表面经过抛光处理，型面是抛物面曲面轨迹的金属反射面,将馈源定位于抛物面焦点上,馈源系统发射球面波信号,经反射面类似光学反射转换为平面波，创建一个合适的平面波入射的理想测试区域。紧缩场的波束聚焦作用减小了暗室侧墙、地面以及屋顶的多路径散射,降低了对暗室的要求。实践证明,好的紧缩场暗室,测试静区反射电平可以达到-50dBsm以下。